Трифонов Артем Сергеевич
«Основы сканирующей зондовой микроскопии»
Описание курса:
Курс посвящен обзору традиционных, а также недавно разработанных методик сканирующей зондовой микроскопии, а также применению этих методик в физике наноструктур, биологии и материаловедении. Рассмотрены следующие методики: сканирующая туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, электросиловые методики, оптические методики. Даны понятия о конструкции конкретных реализаций приборов российских и зарубежных производителей. В курсе также уделяется внимание оригинальным методикам, реализованными производителями (PeakForce (Bruker); bounce-mode (AIST-NT) и т.д.). Для каждой методики приводятся примеры использования и даются сведения об области ее применения. Примерно одна треть материалов курса доступна в учебных и методических пособиях на русском языке. Остальная часть курса является оригинальной. Все понятия, подходы и приложения рассматриваются на уровне курса общей физики с тем, чтобы при дальнейшем изучении дисциплины у обучающихся уже имелось представление об этом направлении физики в целом.
План курса:
Лекция 1
Сканирующая туннельная микроскопия.
Лекция 2
Атомно-силовая микроскопия.
Лекция 3
Метод камертона.
Лекция 4
Магнитная/емкостная/токовая микроскопия.
Лекция 5
Метод Кельвина и электросиловой методы.
Лекция 6
Оптические методики: ближнепольные и дально-польные.
Лекция 7
Многопроходные методики сканирующей зондовой микроскопии.
Лекция 8
Использование активных дополнительных датчиков.
Лекция 9
Методы литографии и манипулирования в сканирующей зондовой микроскопии.
Лекция 10
Измерения в специальных средах.
Лекция 11
Точность измерения физических величин, достоверность полученных данных, артефакты измерений.
Лекция 12
Методы обработки данных.
Лекция 13
Конкретные реализации сканирующих зондовых микроскопов.
