Зырянов Сергей Михайлович

Зырянов Сергей Михайлович

 

«Технология производства микрочипов с наноразмерными элементами»

Описание курса:

В курсе рассматривается планарная технология производства микрочипов, физические основы процессов формирования структур на поверхности, возникающие проблемы и пути их решения. Объясняются принципы процессов осаждения и травления материалов в плазмохимических реакторах, ионной имплантации и литографии. Также рассматриваются типовые объекты микроэлектроники и особенности их производства: MOSFET, логические элементы, элементы хранения информации.

Целью курса является знакомство студентов с существующими и перспективными методами обработки материалов при производстве микроэлектронных устройств. Особое внимание уделяется обработке материалов в плазмохимических реакторах, так как возможность проведения в таких реакторах анизотропного травления, ион-стимулированного осаждения и функционализации материалов является ключевой при формировании структур с нанометровыми размерами.

План курса:

1. История создания вычислительных устройств на основе дискретных и интегральных компонентов. Современное состояние микроэлектроники.

2. Планарная технология, как способ одновременного производства большого числа микроэлектронных устройств.

3. Физические основы использования плазменных реакторов в микроэлектронной технологии.

4. Многочастотные емкостные и индукционные разряды. Их использование для независимого управления плотностью радикалов/ионов и энергией ионов при ион-стимулированных процессах.

5. Производство пластин из кристаллического кремния, используемых в качестве для подложек при производстве микрочипов с помощью планарной технологии.

6. Методы нанесения тонких пленок из проводящих, полупроводниковых и диэлектрических материалов (spin-on, PVD, CVD, ALD).

7. Методы модификации материалов в микроэлектронном производстве (окисление, легирование, функционализация).

8. Основы оптической литографии. Проблема дифракционного предела.

9. Снижение характерного размера элементов литографической маски ниже дифракционного предела на периодических структурах.

10. Иммерсионная литография. EUV-литография.

11. Методы травления материалов (жидкостное травление, плазмохимическое ион-стимулированное травление, криогенное травление, Bosch-процесс, ALE).

12. Особенности формирования слоев металлизации при производстве микрочипов. Damascene и dualdamascene процессы.

13. Физические основы и типовые топологии создания микросхем памяти. Физические основы микроструктур для перспективных запоминающих устройств.

14. Перспективные технологии нижнего топологического уровня микросхемы (FEOL).

15. Перспективные технологии создания слоев металлизации (BEOL).

16. Актуальные и перспективные материалы в микроэлектронном производстве и особенности их обработки в плазменных реакторах (low-k, high-k, графен, дихалькогениды).

17. Проведение фундаментальных исследований при решении прикладной задачи в области микроэлектроники на примере задачи бездефектного плазмохимического травления low-k материалов.

18. Экскурсия на микроэлектронное производство.